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CT分析试验的操作流程

CT分析试验的操作流程 电力设备预防性试验|发布时间:2014-07-25 00:00:00|阅读量:1020 标签: | | |

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CT分析试验的操作流程正文

        DGCT-T CT参数分析仪是按照IEC60044-1/GB1208, IEC60044-2GB1207,IEC60044-6/GB16847和IEEE C57.13设计的多功能电流电压互感器特性测试仪CT参数分析仪可以获得电流电压互感器的励磁特性,励磁参数,匝比,匝比误差,极性线圈电阻等多种试验参数,被测电流互感器的最高拐点电压可以达到8.4KV。CT参数分析仪可进行互感器的比差与角差校验,精度高达0.05%。DGCT-T CT参数分析仪可对CT暂态特性测试与分析,并分析CT的暂态特性对继电保护装置的影响。DGCT-T CT参数分析仪还可用于电压互感器的PT励磁特性试验,PT匝数比检测,PT极性校验,PT二次绕组电阻测量,PT二次负荷测量。  
        CT分析试验的操作流程:  
        进行CT分析试验时,用户需要按照如下步骤进行:  
        1)在遵循安全规则的前提下,按照CT分析的接线图,完成CT参数分析仪和互感器的连接。  
        2)在软件上选择“CT分析”试验项目。  
        3)完成互感器的各种试验参数设置。  
        4)启动试验,等待试验完成。  
        5)查看结果。  
        注意:对于饱和电压很高的互感器,CT参数分析仪将会以很低的频率检测互感器的励磁特性(可能低至0.25Hz),因此此时完成整个试验所需的时间可能较长(最长会达到半个小时),请耐心等待。严禁在试验过程中断开测试线的连接  
        在执行CT分析试验时,CT参数分析仪会按照如下过程完成整个试验:  
        线圈电阻检测->一次消磁->二次消磁->精细调压测量比差角差->粗调测量比差角差->测量互感器励磁曲线  
        1)如果用户选择的工作模式是非自动获取饱和电压则一次消磁过程将被跳过  
        2)如果互感器的饱和电压较低,则粗调测量比差角差的流程将被跳过  
        在试验过程中,左下角会提示当前CT参数分析仪的功率输出和试验运行状态。  
        在参数设置界面,如果选择“快速试验”,CT参数分析仪的记录点数较少且升压过程中电压步进值较大,因此对于剩磁系数高,且饱和电压低(<250V)的互感器励磁曲线会出现不平滑现象,此时因选择标准试验。  
        选择标准试验时仪器记录的数据点多,励磁曲线以及计算参数更精确,但是选择标准试验时试验时长是快速试验的2倍以上。  

        更多DGCT-T CT参数分析仪的详细参数请访问:   
        http://www.kv-kva.com/709/
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